測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。
PCT高壓加速老化試驗機 技術參數(shù):
◆型 號 PCT-250 PCT-350 PCT-450 PCT-550
◆內(nèi)箱尺寸（cm）Φ25×D35 Φ30×D45 Φ40×D55 Φ50×D60
◆外箱尺寸（cm）W56×H65×D105 W66×H105×D125 W76×H115×D135 W860×H135×D145
◆控制器:微電腦飽和蒸氣溫度+時間+壓力顯示獨立控制器
◆分辨率溫度：0.1壓力：指針式0.1
◆控制穩(wěn)定度:溫度：±0.5℃，濕度：
◆內(nèi)箱材質:SUS316#不銹鋼
◆外箱材質:鋼板烤漆或不銹鋼（依客戶選擇）
◆溫度范圍:110℃～132℃ 110℃～147℃
◆濕度范圍:00%RH飽和蒸氣
◆壓力范圍:表壓力+0.2～2.0kg/cm2 表壓力+0.2～3.5kg/cm2
◆加壓時間:大約45分鐘 大約55分鐘
◆循環(huán)方式:蒸氣自然對流循環(huán)
◆安全保護:感溫器檢測保護，階段高溫保護，階段高壓保護，箱門壓力限制，水◆箱缺水報警斷電，溫度加熱器保護，濕度加濕器保護，二階段高溫保護，二階段高壓保護，三階段緊急泄壓保護，，手動泄壓保護，自動泄壓等。
PCT高壓加速老化試驗機 設備特點： ◆圓型內(nèi)箱,不銹鋼圓型試驗內(nèi)箱結構,符合工業(yè)安全容器標準,可予防試驗中結露滴水現(xiàn)象. ◆圓幅內(nèi)膽,不銹鋼圓弧型內(nèi)膽設計,可避免蒸氣過熱直接沖擊. ◆水管采用銅管+喇叭口，精密設計,氣密性良好,耗水量少。 ◆型packing ,材質：耐高溫夕膠發(fā)泡成型，內(nèi)箱壓力愈大時,packing會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統(tǒng)擠壓式*不同,可延長packing壽命. ◆實驗開始前可將原來內(nèi)箱之空氣抽出，并吸入過濾器,過濾之新空氣packing＜1micom.以確保箱內(nèi)之純凈度. 更多詳情咨詢：：陳 ： : 2865250797 PCT高壓加速老化試驗機 滿足標準： ◆IEC60068-2-66 ◆JESD22-A102-B ◆EIAJED4701 ◆EIA/JESD22 我司主要生產(chǎn)銷售：PCT高壓加速老化試驗機、鹽霧試驗機、振動試驗機、破裂強度試驗機、插拔力試驗機、等可靠性試驗儀器、信賴性試驗設備。 更多詳情請登陸www.aslitest.com
